北京郵電大學

802 電子電路

模擬部分

一、考試要求

要求學生系統(tǒng)地掌握模擬電子技術(shù)的基本概念、基本電路的工作原理和基本分析方法，并能靈活應用于實際，具有較強的分析問題與解決問題的能力。

二、考試內(nèi)容

1、了解PN結(jié)及其特性;掌握常用二極管、雙極型晶體管及場效應管的特性和主要參數(shù)。

2、掌握雙極型晶體管組成的三種基本組態(tài)電路的特點和基本分析方法;了解場效應管放大電路。

3、了解多級放大電路的常用耦合方式，掌握多級放大電路的特點及分析方法。

4、掌握集成運放的基本組成、工作特點、內(nèi)部典型電路及主要技術(shù)指標。

5、了解頻率響應的基本概念及波特圖;掌握雙極型晶體管及場效應管的高頻等效模型;了解放大電路的頻率響應。

6、掌握反饋的基本概念、判斷方法、負反饋對放大電路性能的影響及深度負反饋放大電路的分析方法;了解負反饋放大電路的穩(wěn)定性問題。

7、掌握運放工作在線性區(qū)的特點及由集成運放組成的基本運算電路。

8、掌握電壓比較器、三角波(矩形波)發(fā)生器的電路組成和工作原理。

9、了解功率放大電路的特點，掌握互補功率放大電路。

三、試卷結(jié)構(gòu)

1、考試時間：1.5小時;滿分：75分

2、題目類型：填空、選擇、簡答、計算(包括簡單設計)及讀圖題等。

數(shù)字部分

一、考試目的

本考試主要考核考生對數(shù)字邏輯電路的基本概念、中小規(guī)模邏輯器件的工作原理以及數(shù)字邏輯電路的分析和設計方法的掌握程度。要求考生具備分析常用數(shù)字電路邏輯功能的能力和使用中小規(guī)模器件和可編程邏輯器件進行邏輯設計的能力。

二、試題結(jié)構(gòu)

1、考試時間：1.5小時 ;滿分：75分

2、題目類型：填空題、選擇題、判斷題、簡答題、分析題、設計題、計算題

三、考試內(nèi)容

1、數(shù)制和編碼及邏輯代數(shù)基礎(chǔ)

1)各種數(shù)制之間的互相轉(zhuǎn)換及BCD編碼

2)邏輯代數(shù)的基本定理和定律

3)邏輯函數(shù)的表示方法

4)邏輯函數(shù)的公式法和卡諾圖法化簡

2、門電路

1)TTL門、CMOS門(含OC門、OD門和三態(tài)門)的內(nèi)部電路邏輯分析

2)TTL門、CMOS門(含OC門、OD門和三態(tài)門)的靜態(tài)輸入、輸出特性

3)不同工藝邏輯門之間的互聯(lián)

3、組合邏輯電路

1)小規(guī)模組合邏輯電路的分析和設計

2)常用中規(guī)模組合邏輯電路(編碼器、譯碼器、數(shù)據(jù)選擇器、加法器、比較器和數(shù)據(jù)分配器等)的功能和應用

3)競爭冒險(包括邏輯冒險和功能冒險)現(xiàn)象、產(chǎn)生原因、判斷方法和消除方法

4、觸發(fā)器

1)各種觸發(fā)器的狀態(tài)方程、動作特點

2)不同觸發(fā)器之間的轉(zhuǎn)換

5、時序邏輯電路

1)中、小規(guī)模時序電路的分析

2)常用中規(guī)模時序電路(計數(shù)器、移位寄存器、序列信號發(fā)生器、順序脈沖發(fā)生器和M序列信號發(fā)生器等)的分析與應用

3)常用同步時序電路的設計

4)狀態(tài)機(復雜時序邏輯)電路的設計

6、半導體存儲器與可編程邏輯器件

1)ROM、RAM、FPLA、PAL、GAL、EPLD、CPLD、FPGA 的結(jié)構(gòu)特點

2)用存儲器設計組合和時序邏輯電路

7、數(shù)-模和模-數(shù)轉(zhuǎn)換

1)D/A、A/D的轉(zhuǎn)換精度與轉(zhuǎn)換速度

2)權(quán)電阻型和倒T電阻網(wǎng)絡型D/A工作原理

3)并行比較型、反饋比較型A/D工作原理